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產品綜述
Ceyear 3674系列向量網路分析儀是技術創新的巔峰之作，可以輕鬆應對半導體晶片測試、材料測試、天線測試、高速線纜測試、微波部組件測試等帶來的嚴峻挑戰。出色的射頻特性、靈活的硬體配置和豐富的軟體功能相輔相成，只需一次連接即可完成多種測量任務。創新的人機交互設計可幫助您快速便捷地完成所需的測量設置，超大觸摸屏為您帶來靈活、高效的操作體驗。

● 主要特點
·最高120GHz寬頻帶同軸覆蓋；
·1Hz~35MHz中頻帶寬，最大測量點數210001；
·超快掃描速度，140dB大動態範圍；
·具有脈衝S參數測量、變頻器件測量、增益壓縮測量、雜訊係數測量、頻譜測量、信號完整性測量、差分I/Q測量、有源互調失真測量、自動夾具移除等21種功能；
·SCPI指令同步記錄，腳本一鍵生成；
·15.6英寸多參數同屏顯示，多點觸控操作。

產品綜述
5233D 誤碼測試儀主要用於光模組的誤碼性
能測試 。其主機採用標準 2U 機架式結構， 支持
RS232 和以太網遠程控制，配合選件具有比特誤碼
測試、誤碼率眼圖 、電壓拉偏、預加重控制 、幅度
控制、溫度與功耗監測及 DDM 監視功能 。選件接
板支持的介面速率在 100Mbps～600Gb ps 範圍內，支持 NRZ 和 PAM4 調製誤碼測試，適合於 SFP、
SFP+ 、SFP28 、CSFP、XFP 、QSFP+ 、QSFP28 、CFP 、CFP2 、CFP4 、CFP8 、CXP、CXP2、 DSFP、 SFP-DD、SFP56 、QSFP-DD、QSFP56 、OSFP 、CXP3 等多種光模組的研製和生產測試。
產品特點
自動識別光模組種類並進行控制
支持按模組介面和通道進行誤碼測試
為光模組提供電源， 並可以進行電壓拉偏控制
光模組 I/O 信號控制 、狀態查詢
具有 DDM 監視功能， 通過 I2C 或 MDIO 介面對光模組進行控制和狀態讀取
眼圖分析功能
光模組工作環境溫度監測
命令式遠程控制， 適合定制自動化測試

產品綜述
6212A 偏振相關損耗測試儀為一體化整機，廣泛應用於無源光器件（光耦合器、光隔離器、濾波器、光開關、光衰減器等）研發和生產時的偏振相關損耗（PDL）測試，同時具備光功率計功能和插入損耗測試功能。
主要特點
偏振相關損耗測試功能
光功率計功能
插入損耗測試功能
遠程控制功能
主機平臺具有網口和串口兩種程式控制介面，提供遠程控制指令集。
液晶顯示
主機搭配搭配 3.5 寸高清顯示幕，介面友好，便捷高效。

產品綜述
6317系列可調諧鐳射源是Littman 外腔類型的國產化高性能光源，具有皮米級的波長定位精度並覆蓋 1240 nm~1680 nm波長範圍，輸出鐳射的波長/功率重複性極高且有良好的動態範圍，在穩定波長掃描時可同步輸出 波長精度極高的觸發電平信號。6317系列光源的窄線寬特性搭配無跳模波長連續掃描功能，可以幫助光頻域反射儀 (OFDR) 實現極為理想的空間解析度和定位精度；基於6317系列光源的光波長掃描系統可高效測試光通信領域中 矽光晶片、濾波器、波長選擇開關等光電晶片/器件的波長相關特性參數 (IL、PDL 等)。6317系列可調諧鐳射源性 能先進、性價比高，可成為各種高端光電測試儀器/系統的內部核心激勵源，也可作為各類高校實驗室、企業研發中 心、計量檢測機構的通用型校準光源，為光電行業科研人員助力賦能。
主要特點
◎ 1240 nm~1680 nm波長範圍
◎ ±3pm 波長精度
◎ 0.1 nm/s~240 nm/s掃描速度
◎ 100 kHz 線 寬
◎ ±0.01dB 功率穩定性
◎ 全範圍無跳模
應用領域
◎ 光學器件表徵
◎ 光纖傳輸測試
◎ 光譜學
◎ 計量校準
◎ 量子光子學
◎ 光頻域反射分析